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精密测控与系统(清华大学测控技术与仪器系列教材)
您想读这本书吗?
作者: 董永贵 李庆祥 出版社: 清华大学出版社
译者:   丛书名:
出版日期:2005-9-1 上架日期:2005-10-28 18:27:00
ISBN:7302114609 页数:      版次:初版
开本:16开 装帧:平装

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| 大封面 | 封底 | 前言 | 内容简介 | 序言 | 目录 | 作者简介 | 译者简介 | 作者序 | 译者序 |

【读者评论】

内容简介
本书以系统的观点,阐述了现代精密仪器设计中的控制理论、测试技术和设计方法。本书内容新颖、实用性强。
本书共分9章:导论、系统的数学模型、传感器与测试系统、信号调理、图像处理技术、微弱信号检测技术、数字控制系统、计算机测控系统、现场总线技术与基于Internet的远程测控系统。
本书可供高等工科院校测控技术与仪器、电子精密机械、机电一体化及光学仪器等专业的师生使用,也可供从事精密仪器与机械及微纳米机电系统的研究、设计、制造、使用和调修的工程技术人员学习和参考。

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