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互换性与测量技术基础(第2版)
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作者: 王伯平 主编 出版社: 机械工业出版社
译者:   丛书名: 高等学校教材
出版日期:2000-3-13 上架日期:2005-11-1 13:57:00
ISBN:7111077342 页数:      版次:2-9
开本:16 装帧:
读者对象:本科师生

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| 大封面 | 封底 | 前言 | 内容简介 | 序言 | 目录 | 作者简介 | 译者简介 | 作者序 | 译者序 |

【读者评论】

内容简介
本书包括绪论、光滑圆柱体结合的公差与配合、测量技术基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度、光滑工件尺寸的检测、滚动轴承与孔和轴结合的互换性、尺寸链、圆锥结合的互换性、螺纹结合的互换性、键和花键的互换性、圆柱齿轮的互换性等共十二章,并另附习题及实验指导书。
本书概括了互换性与测量技术基础这门课的主要内容,分析介绍了我国公差与配合方面的最新标准,阐述了技术测量的基本原理,同时也介绍了国内外一些新的测量技术。

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 读者:641019  最新讨论:2007-12-6 16:45:32  评价等级:   
此书一般,形位公差部分不详细,作为参考书可以,教材则不行.
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(共1条)


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