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单片机应用系统电磁干扰与抗干扰技术
您想读这本书吗?
作者: 王幸之 出版社: 北京航空航天大学出版
译者:   丛书名:
出版日期:2006-1-1 上架日期:2006-3-16 10:25:00
ISBN:7810777602 页数: 
开本:26cm 装帧:

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| 大封面 | 封底 | 前言 | 内容简介 | 序言 | 目录 | 作者简介 | 译者简介 | 作者序 | 译者序 |

【读者评论】

内容简介
随着单片机的广泛应用,抗干扰技术愈来愈引起人们的重视,并且贯穿于测控系统的设计、制造、安装以及运行的各个阶段。
全书分12章。主要内容包括:电磁干扰的产生机理;常用元器件的选用方法;常用硬件、软件电磁干扰控制方法;单片机测控系统中主机单元、测量单元、D/A及A/D单元、功率接口单元、人机对话单元的配置与抗干扰设计;还详细介绍了供电电源及印制板设计的抗干扰措施。
本书可供大专院校自动化、计算机应用、仪器仪表等有关专业师生以及从事单片机应用系统设计、开发和维修的广大科技人员阅读。

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