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| 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计（含光盘）
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封底 |
前言 |
内容简介 |
序言 |
目录 |
作者简介 |
译者简介 |
作者序 |
译者序 | |
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| 【读者评论】 |
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内容简介
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术有产品的投资成本上论述嵌入内核和soC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。
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目录
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