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电子元器件可靠性试验工程{*JB*}
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作者： 罗雯等编著 出版社： 电子工业出版社
译者：   丛书名：
出版日期：2006-4-10 上架日期：2006-6-26 18:19:00
ISBN：712100965X 页数：350      版次：第10版
开本：100开 装帧：袋装
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| 大封面 | 封底 | 前言 | 内容简介 | 序言 | 目录 | 作者简介 | 译者简介 | 作者序 | 译者序 |
【读者评论】

内容简介
 本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别：环境试验（包括13类环境和综合环境试验）；寿命试验和加速寿命试验；鉴定试验；极限应力试验；可靠性筛选试验；可靠性增长试验。
　　各试验类别包括了原理、理论模型、试验设计、实施程序、设备要求、关键技术及试验示例等并介绍了相关的可靠性基础知识和数理统计方法，提供了元器件失效分析和破坏性物理分析方法、程序及其关键性技术，使用状态中元器件失效预测技术。
本书可作为高校教师、研究生、本科生及从事可靠性研究的工程技术人员工作的参考书。

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