[放大封面]
[放大封底]
|
| 【相关下载】 |
 |
|
|
| 【二手书】 |
 |
本产品共有 0 册二手书出售，
最低价：￥.00 [查看] |
|
|
|
| 【读者评论】 |
 |
|
 |
内容简介
本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。本书共分为三部分：第一部分介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法等；第二部分介绍数字系统的可测试性设计理论和方法、内建自测试BIST、测试数据压缩方法等；第三部分主要讨论系统测试的方法。本书概念清晰、层次分明、定义和证明准确、算法推导和阐述简练。每章附有大量练习题可帮助读者消化吸收所学的概念。
本书可供数字系统设计相关技术人员参考，也可作为高等院校相关专业高年级本科生或研究生的教材。
|
目录
伸缩显示:  [弹出查看]
伸缩显示: [弹出查看] |
|
推荐图书
金书豆豆
【您的购物车】
(共0条)