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电子元器件可靠性设计
您想读这本书吗?
作者: 王蕴辉 出版社: 科学出版社
译者:   丛书名:
出版日期:2007-9-1 上架日期:2007-9-24
ISBN:7030196384 页数:      版次:初版
开本:16开 装帧:平装

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| 大封面 | 封底 | 前言 | 内容简介 | 序言 | 目录 | 作者简介 | 译者简介 | 作者序 | 译者序 |

【读者评论】

内容简介
为使我国电子元器件可靠性技术的研究和应用迈向一个新台阶,促进元器件固有可靠性水平的提高,我们组织国内重点元器件研制生产单位长期从事元器件设计的专家,在总结多年可靠性工作经验的基础上,密切结合我国元器件的实际情况,编写此书,呈现给读者。
本书共分9章,内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求;单片集成电路可靠性设计;混合集成电路可靠性设计与控制;半导体分立器件可靠性设计;连接器可靠性设计;继电器可靠性设计;电容器可靠性设计;微特电机可靠性设计;声表面波器件可靠性设计等。本书内容全面,翔实,涵盖电子元器件可靠性设计和控制所必需的基本技术与方法。另外,对各类元器件均给出了应用实例。
本书既可作为电子元器件研制、生产单位的培训教材,也可作为高等院校研究生、本科生的参考教材,同时也可供广大工程技术人员参考。

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