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内容简介
本书是“分析仪器使用与维护丛书”之一。 本书分十二章介绍了X射线荧光光谱分析的原理,仪器主要部件,定性与定量分析方法,基体校正与数据处理方法,样品制备技术,具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则等。内容丰富、新颖、翔实,在探测器技术、基体校正、样品制备、仪器维护等章节具有特色。 本书可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考,同时也可作为高等学校与仪器分析相关专业师生的参考书。
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