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译者序

原书前言

第1章 空间辐射环境1

 1.1 空间辐射效应1

  1.1.1 空间辐射环境:范艾伦带、太阳耀斑、太阳风和宇宙射线1

  1.1.2 剂量效应:产生原因、对电子器件的影响、辐射强度4

  1.1.3 位移效应:产生原因、对电子器件的效应、辐射强度5

  1.1.4 重离子效应:产生原因、对电子器件的效应、辐射强度5

  1.1.5 质子效应:产生原因(直接或间接)、对电子器件的效应、辐射强度6

 1.2 其他效应7  

 1.2.1 原子氧:来源和效应7

  1.2.2 太阳紫外线:来源和效应7

  1.2.3 微流星体:来源和效应8

  1.2.4 轨道碎片:来源和效应8

 参考文献9

第2章 微电子器件的辐射效应10

 2.1 引言10  

 2.1.1 长期效应10

  2.1.2 瞬态效应11

 2.2 MOS器件12  

 2.2.1 阈值电压漂移12

  2.2.2 退化效应14

  2.2.3 亚阈斜率15

  2.2.4 MOSFET的泄漏电流15

 2.3 双极型器件17   

2.3.1 简介17  

 2.3.2 电流成分17  

 2.3.3 射-基间耗尽区的复合效应18

  2.3.4 中立基区的复合效应18  

 2.3.5 电流增益19

 2.4 单粒子效应20  

 2.4.1 引言20  

 2.4.2 仿真方法21

  2.4.3 器件级效应22

第3章 电子器件的飞行异常26

第4章 多层级故障效应评估61

第5章 模拟和混合信号电路的辐射效应79

第6章 单粒子翻转的脉冲激光测试技术基础106

第7章 ASIC电路的设计加固方法125

第8章 可编程电路的错误容差140

第9章 用于加固设计的自动化工具158

第10章 SEE和总剂量试验测试设备177

第11章 数字架构的错误率预计:测试方法学和工具204

第12章 基于SEEM 软件的激光SET测试和分析226


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