序言
2015年5月8日,国务院正式印发的《中国制造2025》明确了航空/航天装备国产化和自主可控的发展方向。随着我国航空航天事业的飞速发展,载人航天、月球探测、北斗导航、深空探测等航天工程对抗辐射电子学提出了迫切需求,大型飞机、宽体客机、干支线飞机、直升机、无人机、通用飞机等军民用飞机研制和产业化的发展使国内越来越关注大气中子辐射效应及其检测方法。近些年,在国家大力支持和行业迫切需求的背景下,国内航天抗辐射行业迅速发展,基础科研、产品、应用、试验等相关人员队伍迅速壮大,但国内辐射效应及其试验方法等相关书籍很少,难以满足科技人员的需要。此外,随着微电子器件的特征尺寸不断减小,集成度不断提高,电子器件及系统中的单粒子效应越来越严重,成为威胁航天、航空电子系统安全可靠运行的重要隐患。

本书由法国TIMA实验室的RaoulVelazco、法国波尔多第一大学的PascalFouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的RicardoReis共同编著,从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应,主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

本书内容全面、丰富且针对性强,覆盖了电子器件及系统辐射效应的方方面面。区别于其他电子系统辐射效应论著,本书从工程化的角度论述空间辐射效应评估、地面模拟、软错误率预计等技术以及国际上目前先进的研究方法论,同时兼具基础性和理论性。本书适合专业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工程化应用的技术人员阅读和借鉴;同时,也可为该领域的“新人” (如研究生)提供必备的基础知识。

由于译者水平有限,译本中难免有不妥之处,敬请读者不吝指正。



按 Ctrl+p 打印本页】【关闭