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嵌入式系统中的辐射效应(从工程化的角度论述空间辐射效应评估、地面模拟、软错误率预计等技术以及国际上目前先进的研究方法)

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详情描述

内容简介

本书由法国TIMA实验室的RaoulVelazco、法国波尔多第壹大学的PascalFouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的RicardoReis共同编著,从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应,主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。本书内容全面、丰富且针对性强,覆盖了电子器件及系统辐射效应的方方面面。区别于其他电子系统辐射效应论著,本书从工程化的角度论述空间辐射效应评估、地面模拟、软错误率预计等技术以及国际上目前先进的研究方法论,同时兼具基础性和理论性。本书适合专业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工程化应用的技术人员阅读和借鉴;同时,也可为该领域的“新人”(如研究生)提供必备的基础知识。

目       录

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前       言

从1962年高海拔核测试导致的Telestar卫星失效开始,自然或人造辐射可能干扰电子设备的操作这一..

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编辑荐语

随着微电子器件的特征尺寸不断减小,集成度不断提高,电子器件及系统安全可靠性越来越重要,本书就是针对电子器件可靠性这个重要议题而展开的。

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